S-параметрыS-параметры (от англ. scattering — рассеяние) — элементы матрицы рассеяния многополюсника, описывающего обычно радиотехническое устройство. Различные типы СВЧ-устройств можно описать с помощью падающих и отражённых волн, которые распространяются в подключенных к ним линиях передач. Связь между этими волнами описывается волновой матрицей рассеяния или матрицей S-параметров. Свойства многополюсника с входами описываются с помощью уравнений, связывающих комплексные амплитуды падающих и отражённых волн. ОпределениеКаждый вход (порт) многополюсника в технике СВЧ принято представлять в виде поперечного сечения («клеммной плоскости») линии передачи с основным типом волн. Колебательный процесс на входе с индексом можно представить в виде суммы падающей (распространяющейся по направлению к многополюснику) и отражённой (распространяющейся от многополюсника) волн с амплитудами (нормированными амплитудами) соответственно и . В линейном многополюснике с портами амплитуды этих волн связаны линейными зависимостями: Здесь — коэффициенты рассеяния, не зависящие от и . Данный набор уравнений можно записать в матричной форме. Для этого амплитуды падающих и отражённых волн нужно представить в виде матриц-столбцов и : Тогда связь между и будет иметь вид:
где — матрица рассеяния: Физический смыслЧтобы определить физический смысл элементов матрицы рассеяния многополюсника СВЧ, необходимо на его вход (порт) с номером подать падающую волну, то есть возбудить многополюсник волнами с амплитудой , а ко всем прочим портам подключить согласованные (неотражающие, полностью поглощающие волны) нагрузки. Тогда амплитуды выходящих из портов волн будут равны , откуда . Таким образом, элементы матрицы рассеяния с индексами представляют собой коэффициенты передачи в порт из порта , а с индексами (элементы главной диагонали матрицы) — коэффициенты отражения для случая, когда ко всем портам, кроме порта с номером , подключены поглощающие нагрузки. Область применимостиВ отличие от матриц сопротивлений (проводимостей) и матриц передачи, матрица рассеяния определена для всех устройств СВЧ. Кроме того, с инженерной точки зрения процесс измерения S-параметров возможен для любых устройств СВЧ, так как он сводится к измерению параметров падающей и отражённой волны на входах устройства. Литература
|
Portal di Ensiklopedia Dunia