单粒子翻转

单粒子翻转英文缩写SEU（Single-Event Upsets），航天电子学术语，原因是在空间环境下存在着大量高能带电粒子，计算机中的CMOS电子元器件受到地球磁场、宇宙射线等照射，引起电位状态的跳变，“0”变成“1”，或者“1”变成“0”，但一般不会造成器件的物理性损伤。

单粒子翻转指标用单粒子翻转率来描述，单粒子翻转率是器件每天每位发生单粒子翻转的概率，计算质子单粒子翻转率的一般性公式：

${\displaystyle R_{p}=\int _{E_{0}}^{\infty }\sigma _{p}(E)\varphi (E)\,dE(SEU/bit\cdot d)}$ 其中：${\displaystyle E_{0}}$为阈值能量，单位MeV；${\displaystyle \sigma _{p}(E)}$为质子单粒子翻转截面积，单位${\displaystyle cm^{2}/bit}$；${\displaystyle \varphi (E)}$为质子微分流量。

1. ^ Neutron-Induced Single Event Upset (SEU) FAQ, Microsemi Corporation, [October 7, 2018], The cause has been traced to errors in an onboard computer suspected to have been induced by cosmic rays.