可测试性设计可测试性设计（英語：Design for testing或英語：Design for Testability，DFT）是一种集成电路设计技术。它是一種将特殊结构在设计阶段植入电路的方法，以便生產完成后进行测试，確保檢測過後的電子元件沒有功能或製造上的缺陷。 电路测试有时并不容易，电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过在半導體製程中添加可测试性设计结构，如扫描链等，並利用自動測試設備執行測試程式，可以在生產完成後立即進行品質檢測。有些特定的裝置會在其最終產品的組件上加上測試功能，在消費者的使用環境下執行時一併測試。測試程式除了會指出錯誤資訊外，還會一併將測試的紀錄檔保留下來，可供設計人員找出缺陷的來源。 更簡單的說，測試程式會對所有的被測裝置輸入測試訊號，並期待它們給出預期的正確回應。如果被測裝置的回應與預期回應一致，則可得知電路正常，否則 即為測試錯誤。 為了方便使用測試程式檢測錯誤，電路設計階段不可忽視可測試性設計。在可測試性設計的規則確認完善下，可以利用自動測試圖樣產生器進行更複雜的測試。 参考文献
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